Analytik

Chemische Analytik 

• ATR- Spektroskopie

• Glimmentladungsspektroskopie (RF-GDOES)

• optische Emissionsspektrometrie mittels induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-OES)

• Röntgenbeugung qualitativ (inkl. Auswertung)

• Röntgenbeugung quantitativ

• Röntgenfluoreszenzanalyse incl. LOI (Doppelbestimmung)

• Spektralphotometer (Dr. Lange Test, Elementbestimmung)

• Spektroskopie  (UV, Vis, NIR)

• Schwefel- / Kohlenstoffanalysator

Pulvercharakterisierung

• elektrische Leitfähigkeit von Pulvern

• Heliumvergleichspyknometer

• Korngrößenverteilung Cilas (Laserbeugung 0,04 - 500 µm)

• Korngrößenverteilung DT 1200 (US-Spektroskopie; bis 5 nm)

• Krüs-Gerät (Washburn-, Wilhelmy-Methode)

• Rotationsviskosimeter

• Siebanalyse

• spezifische Oberfläche (BET 5-Punkt-Messung)

• ζ-Potential DT 1200 (1-Punkt)

• ζ-Potential DT 1200 (Titrationskurve)
  

Thermophysikalische Analytik

• Druckerweichung

• Erhitzungsmikroskop

• Krüs-Gerät

• Simultan-Thermoanalyse

• TGA bis 1000°C

• TGA mit FTIR-Analyse

• Wärmedehnung (Dilatometer)

• Wärmeleitfähigkeit (Plattenmethode für wärmedämmende Stoffe) 

Werkstoffuntersuchungen

• Biegefestigkeit

• Brittle-Ring

• chemische Beständigkeit von Gläsern (Email)

• Druckfestigkeit

• Farbanlyse (z.B. CIE-Lab)

• Festigkeit (30 Proben): 3-Punkt, 4-Punkt, Doppelring

• Festigkeit (30 Proben): 3-Punkt, 4-Punkt, Doppelring zuzüglich Bestimmung des m-Moduls

• Grenzflächenenergie (polar und dispers); Sessile-Drop-Methode (Grenzflächenwinkel)

• K_IC-Wertbestimmung (5 Proben)

• Krüs-Gerät (Washburn-, Wilhelmy-Methode)

• Mikrohärte

• Oberflächenspannung (polar und dispers); Pendat-Drop-Methode

• optische Homogenität

• Spannungsanalyse + Probenvorbereitung

• Zugfestigkeit